硬質(zhì)合金軋輥分析電子顯微術(shù)：

分析電子顯微鏡的典型配置：在氧上方配置有背散射電子檢測(cè)器、二次電子檢測(cè)器和X射線能譜探頭，可觀察樣品的表面形貌，相的形態(tài)和分布以及測(cè)定微區(qū)的化學(xué)成分。在樣品下方，即可在觀察屏上按普通的珩射方式獲得樣品晶體結(jié)構(gòu)的信息--珩射花樣，也可按掃描透射方式得到珩射圖像，或通過(guò)電子能力分析器獲得電子能量損失譜，以確定被分析區(qū)域的化學(xué)組成。分析電鏡的最大優(yōu)點(diǎn)是：它能以較高分辨率，在樣品的同一區(qū)域內(nèi)同時(shí)獲得其形貌、結(jié)構(gòu)及成分的信息。